Zeiss Geminisem 300 може виконувати вторинні зображення вторинного електронного електрона та зворотний розрізаний електронний візуалізація одночасно з роздільною здатністю до 0,7 нм. Він може реалізувати швидку, якісну, масштабну та суб-нано-роздільну здатність. Детектор EDS з вікном 100 мм2 може проводити кількісне визначення елементів точки, лінії та області. Детектор EBSD може збирати EBSP без спотворень та мегапіксельної роздільної здатності для детального аналізу штаму та фази.

Spectro Arcos ICP-OES має вертикальну структуру подвійного спостереження (DSOI), яка підвищує чутливість та виключає проблеми сумісності забруднення/матриці. Його оптична система ORCA може зафіксувати спектри в діапазоні 130-770 нм. Порівняно з системами на основі Ечелла з перехресною дисперсією за допомогою середньої етапної решітки та призми, вона забезпечує продуктивність у діапазоні УФ/ВУВ з фотоакустичною інтенсивністю сигналу, що становить до 5 разів.

Spectrolab S оснащений світовою системою запису детекторів на основі CMOS, що робить її ідеальною для аналізу металів високого класу. Він забезпечує надзвичайно швидкий, високоточний та винятково гнучкий аналіз додатків, починаючи від мікроелементів до мультиматриці.

Jena Novaa 800F має інтегровану карусель з RFID-зчитувачем для 8 кодованих порожнистих катодних ламп, виправлення фону дейтерію, перевірену оптичну лавку в режимі одного та подвійного променя, а також у режимі випромінювання та останнього твердотільного детектора Siosens. Його кілька інтелектуальних аксесуарів максимізують продуктивність, безпеку та простоту використання для аналітичних процедур.

Універсальна система тестування матеріалів 68TM-30 має датчики навантаження на 30 кН та 1 кН з точністю 0,5 класу в діапазоні 0,1 ~ 100%. Тестова система може виконувати інтегровані дані та придбання із закритим циклом, а також автоматичну ідентифікацію та калібрування датчиків. Його високоточна безконтактна відео Extensometer Ave2 має роздільну здатність 0,5 мкм і використовує запатентовану перехресне поляризоване освітлення та вентилятори CDAT для усунення впливу персоналу, освітлення та потоку повітря на результатах тестування для дуже повторюваного та точного вимірювання деформації.

Проект VR-5200 використовує смугасте структуроване світло та високоточний датчик CMOS для зйомки зображень та вимірювання висоти та положення кожної точки. Оснащений лінзою з низькою потужністю, він може вимірювати діапазони до 200 × 100 × 50 мм. Об'єктив з високим рівнем магніфікації зменшує роздільну здатність дисплея до 0,1 мкм, що дозволяє здійснити безконтактну партію вимірювання форми, коливань та шорсткості.

IM-8020 використовує подвійний телевізійний об'єктив з винятковими можливостями виявлення краю для вимірювання зразків різної висоти лише одним клацанням. Його ефективність виявлення в 3 рази перевищує продуктивність звичайних моделей завдяки його 20-мегапіксельному CMOS та новому алгоритму виявлення краю. З вимірювальною площею 300 мм × 200 мм і вдвічі більше швидкості традиційних моделей, вона може виміряти до 300 частин всього за кілька секунд. Це дозволяє провести швидкі, точні та прості вимірювання, значно підвищуючи точність, скорочуючи час вимірювання та помилки людини.

Аналізатор лазерних частинок Helos/BR оснащений потужним та міцним ходовим сухим дисперсією для швидкого та повторюваного аналізу розміру частинок сухих зразків. Він має вимірювальний діапазон від 0,3 до 175 мкм і точність менше 0,3%.

Юпітер STA 449F3-це надійний, гнучкий і простий у користуванні інструмент, який одночасно визначає калорійні ефекти та зміни маси. Він поєднує високоефективну тепловисоку DSC з термобалансом, який має роздільну здатність мікрограмів, пропонуючи неперевершений навантаження на зразок та діапазон вимірювань.